Error message

Deprecated function: implode(): Passing glue string after array is deprecated. Swap the parameters in drupal_get_feeds() (line 394 of /afs/elte.hu/org/nanolab/nanolab.elte.hu/includes/common.inc).
Deprecated function: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in menu_set_active_trail() (line 2405 of /afs/elte.hu/org/nanolab/nanolab.elte.hu/includes/menu.inc).

Felületi morfológia jellemzés

Sík minták felületi morfológiájának több nagyságrenden átívelő vizsgálata. A minták felszínét a milliméter nagyságrendtől a mikrométeres és akár nanométeres laterális felbontás tartományig vizsgálhatjuk. A kisebb nagyításokhoz optikai kutatómikroszkópok állnak rendelkezésre, míg 100 um-10 nm-es tartományban nagyfelbontású atomi erő mikroszkópiát alkalmazunk. Az atomi erő mikroszkóp a pásztázó tűszondás képalkotó módszerek családjába tartozik. A minta felületéről előállított kép vertikális irányban angströmös, laterális irányban nanométeres felbontásban tükrözi a minta és a pásztázó tű között fellépő kölcsönhatásokat. A mérések elvégzésére különböző üzemmódok állnak rendelkezésre (kontakt / C-AFM, „true non-contact” / NC-AFM, erőmodulációs FMM). A minta felületéről a topográfia mellett az anyagi tulajdonságokra is kaphatunk információt, így súrlódási együtthatóbeli különbségek, keménység, Young-modulusz.

Kapcsolat: Prof. Kiss Éva, kisseva (at) caesar.elte.hu

Szénszálas szűrő	Lipid monoréteg	Polimer nanorészecskék