A Hatérfelületi- és Nanoszerkezetek Laboratórium gondozásában álló műszerek, elérhető technikák, vizsgálati módszerek
| Atomi erő mikroszkópia | Csepp-profil analízis | Dinamikus fényszóródás | ||
|
Az atomi erő mikroszkópia a pásztázó tűszondás mikroszkópok családjának legfontosabb tagja. Alkalmazásával a minták morfológiája szubmikronos felbontásban tanulmányozható. |
Folyadék cseppek alakjának meghatározásával kis minta térfogatok segítségével mérhetjük a felületi- és határfelületi feszültséget, illetve szilárd minták nedvesedési tulajdonságait. |
A DLS segítségével a részecskék fluid közegbeli diffúziós együtthatója és ezen keresztül az átlagos hidrodinamikai mérete és polidiszperzitás indexe határozható meg. |
||
| Zeta-potenciál mérés | Fajlagos felület mérés | Langmuir-mérleg | ||
|
A kolloid részecskék folyadékbeli elektroforetikus mobilitás mérésén keresztül meghatározhatjuk a zeta-potenciált, ami a részecskék felületi töltésével áll kapcsolatban. |
Az NMR relaxometrián alapuló technika segítségével tömény szuszpenziókból, folyadék közegben határozhatjuk meg a részecskék fajlagos felületét. |
A Langmuir-mérleg lehetővé teszi a folyadék-gáz határfelületen kialakuló molekuláris filmek szerkezeti vizsgálatát és a filmben lezajló változások időbeli követését. |
||
| Tenziométer | Kvarckristály mikromérleg | UV-Vis reflektométer | ||
|
A nedvesedési erő mérésén alapuló módszer segítségével folyadék-gáz, illetve folyadék-folyadék határfelületi feszültség mérése, valamint szilárd felületek nedvesedése határozható meg. |
A kvarckristály mikromérleg a szenzor felületén bekövetkező tömegváltozások nagy érzékenységű nyomonkövetésén keresztül lehetővé teszi az adszorpciós folyamatok vizsgálatát. |
A fény reflexió hullámhossz függő meghatározásával a reflektáló felületen kialakuló vékonyrétegek vastagságának nagy pontosságú meghatározása valósítható meg. |
||
| UV-Vis spektroszkópia | Fluoreszcens spektroszkópia | PM-IRRAS | ||
|
Az UV-látható tartományba eső fény elnyelésén alapuló méréstechnikákkal rutinszerűen lehet meghatározni anyagok mintabeli koncentrációját. |
A fluoreszcens molekulák, részecskék fluoreszcenciájának meghatározásával koncentráció meghatározás mellett a mintákban bekövetkező szerkezeti átalakulások is nyomonkövethetők. |
A polarizáció modulációs infravörös reflexiós-abszorbciós spektroszkópia segítségével szilárd-levegő, illetve folyadék-levegő határfelületi filmek kémiai és szerkezeti tulajdonságai vizsgálhatóak. |
||
| Plazma kezelés | Mikrofluidika | Mikrohullámú reaktor | ||
|
Plazma kezelés segítségével nagy tisztaságú felületek állíthatók elő reprodukálható módon. Emellett a plazmában lévő reaktív gyököknek köszönhetően a felületek kémiai aktiválása is megvalósítható. |
Mikrofluidikai körülmények között folyamatos anyagáramlás mellett lehet kémiai, fizikai-kémiai folyamatokat megvalósítani, lehetővé téve "lab-on-a-chip" eljárások kifejlesztését. |
Mikrohullámú sugárzással nagy sebességű, a hagyományos módszerekhez képest szelektívebb, kevesebb melléktermékhez vezető reakciókat lehet kivitelezni hidro-, illetve szolvotermális körülmények között. |
